数字采样示波器特点：
为挑战性的高速检定测试提供优秀的信号保真度DSA8300系列提供了行业先的小于100fs的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射计和S参数。DSA8300数字采样示波器为155Mb/s-100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
Tek数字采样示波器功能优势：
电模块信号测量准确度：超低系统抖动（典型<100fs）>70GHz<100fs本底抖动允许对高位速率（40和100(4′25)Gb/s）设备进行检定，典型<5%的信号单位间隔由测试仪器所使用。70GHz带宽允许对高位速率信号进行完整检定（数据速率28Gb/秒的5阶谐波和数据速率>45Gb/秒的3阶谐波）。所有带宽上系统噪声业内低：600μV大（450μV典型）@60GHz380μV大（280μV典型）@30GH*降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内多6个通道同时采集<100fs抖动。多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。光模块支持从155Mb/s到100Gb/s(4x25)以太网所有标准速率的光*性测试。为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从155Mb/s(OC3/STM1)到40Gb/s（SONET/SDH和40Gbase以太网）和100Gb/s以太网（100Gbase-SR4、-LR4和ER4），波长850、1310和1550nm。优异的采集吞吐量，采样率高300kS/s。通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短4倍。能够将采样器放到被测设备(DUT)的附近。远程采样头大程度降低因DUT至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。独立的已校准通道相差校正。双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。
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