金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而本公司长久以来一直致力于sem电子扫描电镜的研发与应用，希望将金相学的科研水平推向新的高点。金相学主要指借助光学、本产品和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究。
sem电子扫描电镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，是金属学研究金相的重要仪器，工业部门鉴定产品质量的关键设备。
今天小编要为您介绍的是sem电子扫描电镜的无限远校正的光学系统中，物镜与成像透镜之间为平行光线，原理上具有以下优点：
1、改变物镜与成像透镜的间隔，倍率不会改变。
2、物镜与成像透镜之间插入平行平面板，也能保持齐焦，成像不会偏移。
此处列举的两个优点，在显微镜光学系统的构成上也非常有益，因此，一直存在着“无限远校正光学系统是理想的显微镜光学系统”这一说法。如果能大限度的利用该优点，就可以在物镜和成像透镜之间的平行光束部分中自由插入或移去中间镜筒，构建光学系统。UIS2/UIS物镜的齐焦距离为45mm，成像透镜的焦点距离为180mm。
sem电子扫描电镜
http://www.mcgillsci.com/SonList-2337459.html
https://www.chem17.com/st516624/erlist_2337459.html
